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我國成功研發(fā)激光干涉測量儀器

點(diǎn)擊次數(shù):2434 更新時間:2024-09-27

  【化工儀器網(wǎng) 行業(yè)動態(tài)】激光干涉測量指以激光為光源,以激光波長或激光頻率為基準(zhǔn),利用光的干涉原理進(jìn)行精密測量的方法,具有非接觸測量、靈敏度高和度高的優(yōu)點(diǎn)。激光干涉測量儀器一般用于位移、長度、角度、面基、介質(zhì)折射率的變化等方面的測量,常用的干涉儀有邁克爾遜干涉儀、馬赫-澤德干涉儀、菲索干涉儀、泰曼-格林干涉儀等   激光干涉測量是實(shí)現(xiàn)超精密測控和微納尺度測量的有效手段之一,在許多領(lǐng)域都有極其重要的作用。近日,在國家重大科技專項(xiàng)“極大規(guī)模集成電路制造裝備及成套工藝”等項(xiàng)目支持下,清華大學(xué)長聘教授、精密儀器系學(xué)術(shù)委員會主任李巖研究團(tuán)隊(duì)完成的“高測速多軸高分辨率激光干涉測量技術(shù)與儀器”項(xiàng)目,突破一系列關(guān)鍵技術(shù)瓶頸,形成了測量新方法、系統(tǒng)及儀器。   據(jù)李主任介紹,項(xiàng)目實(shí)現(xiàn)了從干涉儀組件、信號探測解調(diào)到多自由度探測方案設(shè)計(jì)的全鏈條自研開發(fā)的高測速、多軸大量程、高分辨率激光干涉測量系統(tǒng)。目前,該項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)所研發(fā)的光刻機(jī)用雙頻激光干涉儀系統(tǒng)已經(jīng)應(yīng)用到了我國自研光刻機(jī)工件臺樣機(jī)研發(fā)過程中,累計(jì)應(yīng)用50余臺套。該研究成果滿足了光刻機(jī)雙工件臺樣機(jī)的精密測量需求,減輕了對國外干涉儀的依賴,降低了其產(chǎn)品對我國出口限制所造成的研發(fā)風(fēng)險,對保障我國光刻機(jī)雙工件臺研發(fā)的順利實(shí)施起到了積極作用。   此外,項(xiàng)目開發(fā)的亞納米分辨率可溯源外差干涉儀,也應(yīng)用到了激光多維測量系統(tǒng)研究與開發(fā)的比對檢定研究中。亞納米分辨率可溯源外差干涉儀能夠找出了激光多維測量系統(tǒng)非線性誤差原因,并用專門的電路加以校正,提高了相關(guān)單位激光多維測量系統(tǒng)的性能。開發(fā)團(tuán)隊(duì)所提出的可溯源干涉測量新方法,為摩爾單位采用阿伏伽德羅常數(shù)重新定義作出了貢獻(xiàn)。   值得一提的還有,在過去,我國沒有掌握研發(fā)激光干涉測量儀器的核心技術(shù),但該項(xiàng)目的成功一舉打破了外國對我國激光干涉測量儀器的限制和壟斷,豐富了我國激光干涉測量理論與技術(shù),這意味著往后我國裝備和儀器的研發(fā)將擁有性能穩(wěn)定且不受制于外國的測量及溯源能力??偠灾撗芯砍晒哂蟹浅V匾募夹g(shù)、經(jīng)濟(jì)和社會效益。   激光干涉測量技術(shù)是保障可溯源納米測量的重要途徑,也是推動我國邁向計(jì)量強(qiáng)國、制造強(qiáng)國的關(guān)鍵計(jì)量測試技術(shù)。相信隨著研發(fā)團(tuán)隊(duì)的繼續(xù)深入研究,我國的激光干涉測量技術(shù)還會不斷進(jìn)步,為我國帶來更多的效益。
 

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